本測試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運期間可能受到的自由跌落,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機率做為參考標(biāo)準(zhǔn),落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平渴、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。
參照標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
跌落試驗概念:
跌落試驗的原理--將包裝件按規(guī)定高度跌落于堅硬、平整的水平面上,評定包裝件承受垂直沖擊的能力和包裝對內(nèi)裝物保護能力的試驗。跌落試驗,又名drop test。用來模擬產(chǎn)品在搬運期間可能經(jīng)受到的跌落等。
跌落試驗包括:
(1)非包裝狀態(tài)產(chǎn)品在搬運期間可能經(jīng)受的自由跌落,樣品通常按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上。
(2)模擬負(fù)載電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。
(3)包裝跌落
對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同,對于手持型產(chǎn)品(如手機,MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等,IEC對于≤2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對手持型產(chǎn)品(如手機)則建議落下高度為150cm。試驗的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落災(zāi)數(shù)、跌落方向。
針對跌落實驗國家有專門的標(biāo)準(zhǔn),跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體,跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。
分90cm、76cm、65cm幾個等級:
包裝貨物重量(lbs)/(㎏) 落下高度(inches)/(㎝)
1~20.99 lbs(0.45~9.54㎏) 30 in /(76.20㎝)
21~40.99 lbs(9.55~18.63㎏) 24 in /(60.96㎝)
41~60.99 lbs(18.64~27.72 ㎏) 18 in /(45.72㎝)
61~100 lbs(27.73~45.45㎏) 12 in /(30.48㎝)